FTL20型源頭好貨,E+H音叉物位計
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E+H音叉物位計FTL20是一款限位開(kāi)關(guān)，用于罐體、容器和管路中各類(lèi)液體的限位測量。在清洗和過(guò)濾系統中及冷卻劑罐和潤滑油罐體中使用時(shí)，具有溢出保護功能和泵的空轉保護功能。FTL20 是傳統浮球開(kāi)關(guān)和電導式、電容式和光學(xué)傳感器應用場(chǎng)合的理想替換選擇。此外，E+H公司的音叉物位計FTL20還適用于其他測量方法無(wú)法實(shí)現的測量場(chǎng)合，例如：受電導率、粘附、擾動(dòng)、流量或氣泡等因素的影響。
音叉物位計FTL20基于音叉測量原理工作，操作安全、可靠、通用性強，一體式結構設計，即使安裝空間狹小，也能輕松安裝，介質(zhì)溫度可達150 °C。
音叉物位計測量原理：
壓電晶體驅動(dòng)下， FTL20 的叉體以共振頻率振動(dòng)。
叉體被液體覆蓋時(shí)，振動(dòng)頻率發(fā)生改變。FTL20 的電子插件監控共振頻率，判斷叉體處于自由振動(dòng)狀態(tài)，還是已被液體覆蓋。
FTL20型音叉物位計到貨實(shí)物圖： E+H音叉物位計是一種新型的物位開(kāi)關(guān)，也常被稱(chēng)為音叉式物位計或者音叉式物位控制器，它是利用音叉振動(dòng)的原理設計制作的。音叉物位計是在音叉物位開(kāi)關(guān)的感應棒底座，透過(guò)壓電晶片驅動(dòng)音叉棒，并且由另外一壓電晶片接受振動(dòng)訊號，使振動(dòng)訊號得以循環(huán)，并且使感應棒產(chǎn)生共振。當物料與感應棒接觸時(shí)，振動(dòng)訊號逐漸變小，直到停止共振時(shí)，控制電路會(huì )輸出電氣接點(diǎn)信號。
E+H公司推出的音叉限位開(kāi)關(guān)，采用強腐蝕性的涂層叉體，可在危險區域進(jìn)行測量。
1.多種抗腐蝕涂層材料，適用于各種惡劣過(guò)程條件。
2.儀表具有多種過(guò)程連接類(lèi)型
——多種法蘭標準
——應用廣泛
3.配備多種電子插件類(lèi)型
4.采用PROFIBUS PA通信方式進(jìn)行儀表調試和維護
5.無(wú)需儀表標定，快速經(jīng)濟的儀表啟動(dòng)模式
6.無(wú)機械移動(dòng)部件，儀表免維護，無(wú)磨損、使用壽命長(cháng)
7.可監控叉體受損情況。確保儀表始終處于正常工作狀態(tài)。
8.FDA認證材料
9.適用于各種液體介質(zhì)的限位測量
FTL20型源頭好貨,E+H音叉物位計
Endress+Hauser-恩德斯豪斯是世界*過(guò)程控制儀器專(zhuān)業(yè)廠(chǎng)商。恩德斯豪斯主要產(chǎn)品有：物位儀表（雷達物位計、超聲波物位計、導波雷達物位計、放射線(xiàn)物位計、液體音叉開(kāi)關(guān)、固體音叉開(kāi)關(guān)、電容式物位計及開(kāi)關(guān)、電導式物位開(kāi)關(guān)、機電式、靜壓式物位計、差壓式物位計、阻旋式物位開(kāi)關(guān)、重錘式物位計）；流量?jì)x表（電磁流量計、科氏力質(zhì)量流量計、渦街流量計、超聲波流量計、明渠式流量計、熱式質(zhì)量流量計）；分析儀表（PH氧化還原、余氯、電導率、溶氧、濁度及固體含量、組件、采樣站、在線(xiàn)分析儀、污泥界面、監測站、傳導率）；壓力儀表（表壓和絕壓的測量、差壓測量、靜壓）；溫度儀表（變送器、溫度傳感器）；系統與罐區儀表；記錄儀表（記錄儀、過(guò)程顯示指示儀）；通訊儀表等。
E+H物位計采用電磁波脈沖的測量方法，工作頻率26GHZ，波束能量低，可安裝于各種金屬、非金屬容器或管道內，對液體、漿料及顆粒料的物位進(jìn)行連續測量。適用于粉塵、溫度、壓力變化大，有惰性氣體及蒸汽存在的場(chǎng)合。E+H物位計對人體及環(huán)境均無(wú)傷害，還具有不受介質(zhì)比重的影響，不受介電常數變化的影響，不需要現場(chǎng)校調等優(yōu)點(diǎn)，不論是對工業(yè)需要，還是對顧客經(jīng)濟實(shí)惠的考慮，都是不錯的選擇。
E+H物位計的優(yōu)勢：
E+H物位計對于電導率大于100μS/cm的液體無(wú)需標定，探頭長(cháng)度0%/*出廠(chǎng)預設定，調試快速簡(jiǎn)單。
文本顯示，菜單引導式現場(chǎng)設置。
已獲得各項認證與許可，適用范圍廣泛。
符合IEC 61508標準，適用于需要SIL2級安全度的安全系統中。
E+H物位計接液部分采用抗腐蝕材料和FDA認證材料制作。
雙重過(guò)壓保護（氣體放電器+防護二極管）可預防儲罐放電。
電子元件提供內置黏附補償。
E+H物位計在進(jìn)行測量時(shí)，有時(shí)會(huì )出現失真問(wèn)題，如何處理失真問(wèn)題方法如下：
*：天線(xiàn)結疤。厚而濕的結疤會(huì )對微波產(chǎn)生強烈的反射，導致儀表測量值始終保持在一個(gè)恒定的高液位值。
第二：料排空時(shí)天線(xiàn)或附近的凝聚物產(chǎn)生干擾回波。
第三：物料排空時(shí)槽罐內固定組件引起強烈回波。
那么，了解E+H物位計測量值明顯失真的原因后，針對這些因素應該采取什么樣的措施進(jìn)行完善呢?
首先，仔細清理天線(xiàn)和天線(xiàn)附近的附著(zhù)物。
其次，通過(guò)設定近物位計參數距離，儀表將此范圍內的回波設定為干擾回波不進(jìn)行測量。
在通過(guò)特定的參數調整，對其進(jìn)行設置，達到測量的精準度。
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