E+H音叉物位計FTM51系列產(chǎn)品正宗
德國E+H音叉物位計FTM51系列是一款堅固耐用的音叉限位檢測開(kāi)關(guān)，適用于貯倉中的固體細料或低密度的松散固體粉料。用途廣泛，取得了粉塵防爆認證。拋光叉體、卡箍過(guò)程連接、不銹鋼外殼或者鋁制外殼和涂層叉體.堅固耐用的限位檢測開(kāi)關(guān)，帶延伸管，用于固體細料以及爆炸危險區域.
FTM51系列E+H音叉物位計典型應用包括：谷物、面粉、可可豆、砂糖、動(dòng)物飼料、染料粉、白堊.
E+H音叉物位計優(yōu)勢：
達到IEC 61508的SIL2級
無(wú)機械活動(dòng)件、無(wú)需維護，無(wú)磨損，使用壽命長(cháng)。
不受外部振動(dòng)和粘附影響，操作無(wú)需維護，不受固體塊料影響
配備多種電子插件類(lèi)型如NAMUR, 繼電器、半導體晶閘管、PFM信號輸出，實(shí)現與各個(gè)過(guò)程控制系統的連接
粘附和磨損顯示功能可選，密度設置和開(kāi)關(guān)延遲功能可選
傳感器可選帶涂層或拋光型
E+H音叉物位計應用領(lǐng)域；
限位檢測開(kāi)關(guān)，用于固體細料和粉料檢測。
過(guò)程連接：螺紋、法蘭和衛生型連接（卡箍）
溫度： -50 ~ +280°C (-60 ~ +540°F)
壓力： -1 ~ +25bar (-14.5 ~ +360psi)
傳感器長(cháng)度： 300mm ~ 4,000mm
傳感器材質(zhì)： 316L (3,2?m, 0,8 ?m, PTFE 涂層, ETFE 涂層)
防爆認證
特點(diǎn)/應用 細谷粒及粉末狀顆粒的限位開(kāi)關(guān)；叉型探頭；無(wú)需標定；不受粘附及外部振動(dòng)的影響；外部讀數，管型
特性 粘附檢測及腐蝕檢測；分離型；溫度型可選；SIL 2
電源/通信 三線(xiàn)制DC PNP；兩線(xiàn)制AC：19...253V AC / 19V...55V DC；2個(gè)繼電器觸點(diǎn)；8/16mA；NAMUR；PFM
環(huán)境溫度 -50 ... 70℃
過(guò)程溫度 -50 …280℃
過(guò)程絕壓/zui大過(guò)壓界限 真空可達 25 bar
zui小被測介質(zhì)密度 10 g/l ( 可選擇8 g/l )
接觸介質(zhì)部件 可選探頭：316L 3,2um、316L 0,8um、316L PTFE涂層（避免粘附）；探頭纜：PUR、Silicon
過(guò)程連接 "螺紋：1 1/4" NPT、1 1/2" DIN2999、1 1/2" NPT；EN法蘭：DN50...DN100；ANSI法蘭：2"...4"；JIS法蘭：50A...100A"
衛生型過(guò)程連接 ISO2854三夾頭
傳感器長(cháng)度 300 ... 4000mm ( 可選6000mm）
輸出 兩線(xiàn)制DC PNP；AC晶閘管；DPDT繼電器；8/16mA，NAMUR，PFM
證書(shū)和認證 ATEX、FM、CSA、SIL
Safety approvals SIL
Design approvals EN 10204-3.1
可選項 玻璃罩，溫度隔離區，EN10204-3.1
組件 PFM: FTL325P, FTL375P；NAMUR: FTL325N, FTL375N
應用局限
顆粒尺寸 > 10mm  E+H音叉物位計FTM51系列產(chǎn)品正宗
E+H物位計的產(chǎn)品性能
兩線(xiàn)制技術(shù),經(jīng)濟型
非接觸測量：不受介質(zhì)特性的影響
通過(guò)數文顯示菜單輕松進(jìn)行現場(chǎng)操作
通過(guò)操作軟件實(shí)現簡(jiǎn)便的組態(tài)、文件編制及診斷
具備2個(gè)頻率范圍-約6GHz及26GHz：無(wú)干擾，適用于任何應用場(chǎng)合
通信協(xié)議及基金會(huì )現場(chǎng)總線(xiàn)協(xié)議
高溫：適用于高達+200℃的過(guò)程溫度，當采用高溫天線(xiàn)時(shí)可達+400℃
帶有屏蔽管的桿式天線(xiàn)：可在狹窄的加接管及有冷凝和粘附的加接管內可靠測量
E+H物位計是利用超聲波反射原理檢測常壓或低壓容器內液體液位或固體料位的非接觸式物位測量?jì)x表，可廣泛應用于化工、電力、冶金、輕工、水處理等工業(yè)或民用部門(mén)的各種液體或固體物位測量，并可以對明渠、堰中的流量進(jìn)行測量。
E+H物位計采用線(xiàn)性的調制的高頻信號，一般都是采用10ghz或24ghz微波信號。它是一種基于復雜數學(xué)公式的間接測量方法，由頻譜計算出物位距離。天線(xiàn)發(fā)射出被線(xiàn)性調制的連續高頻微波信號并進(jìn)行掃描，同時(shí)接收返回信號。發(fā)射微波信號和返回的微波信號之間的頻率差與到介質(zhì)表面的距離成一定比例關(guān)系。